东北大学理化研究所、立教大学等的联合研究小组完成了一种用于观察不稳定核的新型电子散射实验装置（新型电子显微镜），并从中取出少量氙（Xe）同位素分离器 -132（质子数54，中子数78） 我们对原子核进行了电子散射实验，成功地确定了质子分布。
为了观察小原子（大小为 1 万亿分之一毫米），使用了一种称为“高能电子散射”的方法，其中高能电子束与原子核碰撞并研究散射电子。过去，制作元素薄膜并用电子束照射，但要求原子核数至少为 1 的 10 次方。对于稳定的原子核，电子散射实验很容易，但完全不可能，因为它不能用人工制造的不稳定原子核进行大规模生产。
因此，这一次，我们在世界上率先开发了一种称为SCRIT 方法的新方法。它是一种在细电子束路径中俘获和集中目标离子的方法，自动引起电子散射现象。通过将这种机制结合到称为“电子存储环”的加速器中，可以仅用 1 亿个目标核进行电子散射实验。
配备这种 SCRIT 装置的不稳定核电子散射实验设施在大约 6 年的时间里在理研仁科加速器研究中心完成。使用该设备，将从同位素分离器 ERIS 中取出的约 1 亿个 Xe 原子核倒入 SCRIT 设备中，观察从原子核中散射出来的电子，并根据散射角分布成功确定了原子核的质子分布。 尽管 Xe 是一个稳定的原子核，但由于它是用与不稳定同位素实验完全相同的规格进行测试的，因此可以通过 ERIS 开始全面的不稳定成核来测量不稳定的核质子分布。
未来，不稳定原子核质子分布的测量将取得进展，预计该设施将成为构建全面了解核结构的新核模型的基础。
论文信息：[物理评论快报] SCRIT 设施中 132Xe 的第一次弹性电子散射
