由日本宇宙航空研究开发机构（JAXA）、国立极地研究所、早稻田大学等国内外机构组成的研究小组，将安装在日本国际空间试验舱“Kibo”的舷外实验平台上空间站（ISS） 利用日本研制的三台观测装置历时两年半的同步观测数据，我们成功测量了“电子集中大雨”造成的暴露剂量。
国际空间站在夜间穿越高磁纬度时，可能会遇到电子下落数分钟的现象（相对论电子下降现象/REP现象）。 在REP现象期间，该地区的辐射电子数量在正常时间会增加数百至数千倍，因此宇航员在EVA期间受到的照射影响，尤其是对眼睛（晶状体）的影响是值得关注的。
要测量曝光剂量，必须知道辐射电子的数量及其能量分布。此次，除了能够进行高低能电子计数的全天X射线监测装置（MAXI）和高能电子/伽马射线望远镜（CALET）外，还有空间环境测量任务装置（ SEDA-AP)。 REP 事件由 MAXI 和 CALET 确定，并通过 SEDA-AP 观察到 REP 检测时的能谱。结果，在大约两年半的时间里，在REP现象中发现了2个事件。计算暴露剂量的结果发现，在国际空间站飞船上最大的REP事件中，暴露剂量可以达到在安静环境中一天接受的暴露剂量的数倍。
虽然这个水平的暴露剂量不会直接影响飞行员的健康，但辐射对晶状体的影响与剂量率和累积剂量都有关系，暴露剂量越低越好。可以提前预测 REP 事件的发生。
