当使用光观察物质时，物质的外观会根据光的能量（颜色）而变化。同样，当使用电子观察物质时，物质的外观会根据电子的能量发生很大变化。因此，要想详细了解物质，就必须观察物质在光和电子能量变化的同时外观的变化。这就是光谱显微镜技术。
这一次，东京理科大学等研究团队开发了一种技术，通过新方法实现了难以投入实际使用的宽动态范围的光谱电子显微镜。
以往的方法是一边改变单色电子束的能量一边照射来进行观察，而在新方法中，利用单色电子束照射物质时产生的二次电子作为束源。思考已经做出。由于二次电子具有较宽的能量分布，因此只需设计测量模式和数据的数理统计处理，就可以一次在较宽的能量范围内进行测量。
为了实现这项技术，问题是去除二次电子中包含的背景信号，为此，我们应用了天文学中发展起来的四点测量方法，准确地获得了微弱的星信号。也证实了经过统计处理的实测值与理论值吻合较好。
可以说，这项技术对于纳米薄膜的研究具有重要意义，纳米薄膜通常甚至难以检测到它们的存在，并且难以保证大面积的质量均匀性。
论文信息：[Nature Communications] 用于纳米材料表征的虚拟衬底方法
